雙折射性是偏光顯微鏡檢查的關(guān)鍵
更新時(shí)間:2019-05-10 點(diǎn)擊次數(shù):842
偏光顯微鏡用于各種偏振光檢驗(yàn):無(wú)論是用于巖相學(xué)、礦物學(xué)、結(jié)構(gòu)特性還是液晶檢驗(yàn),新型偏光顯微鏡都能滿足各種要求的理想選擇。
雙折射性是偏光顯微鏡檢查的關(guān)鍵,折射性物體具有通過(guò)折射性將單一光射線分割成兩條光射線的功能屬性。雙折射物體包含具有高度有序的分子結(jié)構(gòu)的材料,例如,氮化硼或方解石晶體。細(xì)胞膜質(zhì)或淀粉等生物試樣也具有雙折射性。在顯微鏡檢查中,可將雙折射性與線性偏振光結(jié)合,獲得兩條光射線干涉,從而產(chǎn)生類似光環(huán)的色彩效果,照亮結(jié)構(gòu)體。
一臺(tái)正常的光學(xué)顯微鏡需要至少兩個(gè)額外部件以進(jìn)行偏光顯微鏡檢查。針對(duì)雙折射性的檢測(cè),必須使用線性偏光進(jìn)行照明。因此,必須在顯微鏡的光路中插入兩個(gè)偏振濾光片。一個(gè)偏振濾光片將產(chǎn)生偏振光,用于照亮試樣,而第二個(gè)偏振濾光片,即檢偏鏡,則將受測(cè)光線限定為折射光。
兩個(gè)偏振濾光片必須互為 90°,以獲得所謂的“暗位”。將偏振濾光片安裝到位后,將不會(huì)有光線穿過(guò)照相機(jī)或目鏡,圖像將變暗。暗位構(gòu)成是偏光顯微鏡檢查的重要步驟,它能夠確保僅試樣所在偏光面發(fā)生變化時(shí),可以看見(jiàn)。受測(cè)的雙折射材料的偏光軸與個(gè)偏光鏡生成的偏光軸相同,這一點(diǎn)非常重要。因此,很多偏光顯微鏡配備轉(zhuǎn)動(dòng)載物臺(tái),用于確保物體的偏光面能夠輕松與個(gè)偏振濾光片的偏光面對(duì)齊。在偏光顯微鏡檢查中,有很多適用于特殊應(yīng)用領(lǐng)域的配件。